8.0. 概要
「スポット ID v1」では、透過電子顕微鏡の制限視野回折によって得られた回折パターンを指数付けします。
TEMの観測条件および回折スポットの幾何学を入力し、「晶体軸を検索」 ボタンを押すことで、候補の晶体軸が検索されます。
8.1. TEM condition
TEMの観察条件を入力します。加速電圧とカメラ長を設定してください。
8.2. Photo1, 2, 3
回折パターンを入力します。検出器上でのスポット間の長さを入力する場合は、mm単位のボックスに値を入力します。d値が分かっている場合は、Å単位あるいはnm-1のボックスに値を入力します。以下の二つのモードのいずれかを選択し、回折パターンの幾何学を定義してください。
三辺
ダイレクトスポットを頂点に含む三角形の3辺の長さを入力します。
二辺狭角
ダイレクトスポットを頂点に含む三角形の2辺の長さとその2辺がなす角度を入力します。
単一の写真から晶体軸を検索する場合は、「晶帯軸を検索」ボタンを押してください。
複数の方位から回折パターンを得ている場合は、「写真2」、「写真3」をチェックし、それぞれに回折パターンの幾何学を入力します。また、それぞれの写真についてホルダーの角度条件も入力してください。最後に「Search zone axis from two or three…」 ボタンを押すと、ホルダー間の角度も考慮して晶帯軸の検索が行われます。